—— PROUCTS LIST
—— ARTICLE
-
硅橡膠介電常數(shù)損耗測(cè)定儀更新時(shí)間：2024-09-09型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：112硅橡膠介電常數(shù)損耗測(cè)定儀高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向，因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹(shù)脂就是典型的例子，雖然這種高聚物的極性很強(qiáng)，但只要固化比較，它的介質(zhì)損耗就不高。相反，支化使分子鏈間作用力減弱，分子鏈活動(dòng)能力增強(qiáng)，介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。
查看詳細(xì)介紹 -
聚合物1MHZ介電常數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-09-09型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：96
聚合物1MHZ介電常數(shù)測(cè)試儀主電容調(diào)節(jié)范圍：18～220pF 準(zhǔn)確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)后頁(yè)使用說(shuō)明
查看詳細(xì)介紹 -
介損試驗(yàn)裝置更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：BQS-37A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：582介損試驗(yàn)裝置符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004)固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗(yàn)方法其采用了西林電橋的經(jīng)典線路，內(nèi)附0-2500的數(shù)顯高壓電源及100PF標(biāo)準(zhǔn)電容器，并可按用戶(hù)要求擴(kuò)裝外接標(biāo)準(zhǔn)電容線路。
查看詳細(xì)介紹 -
高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：BQS-37A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：438高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀本規(guī)程適用于在50Hz電源條件下測(cè)量電容量和介質(zhì)損耗因數(shù)的西林型、電流比較儀型以及電子式、數(shù)字式高壓電容電橋的檢定、后續(xù)檢定和使用中的檢驗(yàn)?；诟邏弘娙蓦姌蛟淼母邏航閾p儀的電橋部分按本規(guī)程檢定，電橋部分與高壓電容器組合后按規(guī)程附錄F校準(zhǔn)。
查看詳細(xì)介紹 -
工頻介電常數(shù)損耗試驗(yàn)儀更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：BQS-37A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：454
工頻介電常數(shù)損耗試驗(yàn)儀3.4.1掃描方式列表掃描功能可對(duì)最多 10 個(gè)點(diǎn)的測(cè)試頻率，測(cè)試電平或直流偏置進(jìn)行自動(dòng)掃描測(cè)試。- 有兩種列表掃描測(cè)試方式：SEQ 方式和 STEP 方式。在 SEQ 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，所有列表掃描測(cè)試點(diǎn)將被自動(dòng)測(cè)試一遍。在 STEP 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，僅對(duì)一個(gè)掃描測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行一次測(cè)試。
查看詳細(xì)介紹
